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TI, 분광분석용 근적외선 DLP® 디바이스 출시

운영자 2014.04.01 00:00 조회 수 : 2525



TI 코리아(www.ti.com/ww/kr)가 최근 개최된 2014 피트콘 박람회(Pittcon 2014)에서 근적외선(near infrared, 이하 NIR) 사용에 최적화된 업계 최초의 DLP® 디바이스와 이를 지원하는 평가 모듈(EVM)을 발표했다.

DLP4500NIR 및 DLP NIRscan™ EVM의 출시는 TI의 MEMS 기술이 투과 및 반사 분광 분야와 기타 영역으로 확장되었음을 의미한다. 식품, 제약, 오일 및 가스업계에서 이용되는 분광계는 이 DLP 기술로 현장과 생산 시설 모두에서 실험실과 같은 수준의 성능을...


원문출처 : http://www.embeddedworld.co.kr/atl/view.asp?a_id=7215
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